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电子产品温度冲击试验

2020-10-29
1082 作者: NTEK北测检测集团

温度冲击测试可针对电子产品的一种可靠性测试,一般电子产品做的多的是从高温环境突然进入低温环境的测试。电子产品温度冲击试验的意义:对于电子产品来说可以剔除产品的早期故障,实验本身是一个破坏性实验。产品冷热冲击是检验它的性能,但是冲击过程肯定会加速产品老化。温度冲击试验常被称作热冲击试验或者温度循环、高低温冷热冲击试验。温度冲击是指装备周围大气温度的急剧变化,温度变化率大于10度/min,即为温度冲击。


温度冲击试验


试验前准备
确定试验程序,试件技术状态,温度量值,循环数,温度稳定,持续时间等

试验前技术状态确认
试验前均应在标准大气条件下对试件进行初始检测并记录,以取得某线数据,检测内容主要包括有:
1.外观特别是应力区,如铸件拐角处,不同材料的结合面,如元器件引线与可见的电子元器件的陶瓷界面检查
2.性能和功能检测

1、试验Na:规定转换时间的快速温度变化;空气;
2、试验Nb:规定变化速率的温度变化;空气;
3、试验Nc:两液槽法快速温度变化;液体;

上面3种试验,1、2以空气作为介质,第3种以液体(水或其它液体)作为介质。1、2的转换时间较长,3的转换时间较短。


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